電能表的電壓跌落和短時(shí)中斷是怎樣造成的？它對電能表有什么影響？
電壓跌落和短時(shí)中斷是由于電力系統(tǒng)發(fā)生短路或接地故障造成的(通常使用
電壓跌落模擬器測試)，尤其是系統(tǒng)進(jìn)行自動重合閘和切除故障的操作會引起0.5s持續(xù)時(shí)間的電壓跌落和短時(shí)中斷。電壓跌落和短時(shí)中斷的時(shí)間雖然很短，但抗干擾性差的電子式電能表，往往會發(fā)生電子元件誤動作或存儲器的數(shù)據(jù)丟失等故障。
工作人員在檢查電能表內(nèi)部的電子器件時(shí)，為什么要采取防靜電措施？
在干燥環(huán)境中人和物、物和物之間的摩擦?xí)a(chǎn)生靜電，例如，塑料棒與人體摩擦后可以很容易建立幾千伏至上萬伏的相對電動勢，如此高的電動勢，當(dāng)周圍存在充電物體時(shí)，靜電電荷可以在周圍產(chǎn)生局部感應(yīng)，并向周圍的低電位放電而引起電子器件損壞，如當(dāng)帶靜電的人和物接觸或靠近電子式電能表時(shí)會發(fā)生靜放電，會使正在工作的敏感元件造成誤動作，甚至損壞。因此工作人員在檢查電能表的電子元件時(shí)必須采取有效的防靜電措施。
設(shè)計(jì)電子式電能表時(shí)可采取哪些措施防止靜電對產(chǎn)品的影響？
最普通也是最有效的方法就是有良好的接地和建立完善的屏蔽結(jié)構(gòu)。在工作場所有良好的專用接地的前提下，電表金屬外殼接地可將放電電流釋放到地，從而避免了由于靜電電荷積蓄在外殼上，外殼電位升高而造成的內(nèi)部放電。對內(nèi)部電路來說，如果需要與金屬外殼相連，則必須采用單點(diǎn)接地方式，防止放電電流流過電子線路，造成傷害。此外，屏蔽外殼的不連續(xù)，如有接縫、開孔等，外殼與內(nèi)部電路之間形成分布電容，靜電電荷會造成兩者間的電位差而影響電路的正常工作。解決方法可以是將電路完全屏蔽或在外殼與電路間增加第二層屏蔽層，屏蔽層接到電路的公共接地點(diǎn)上。如果上述方案無法實(shí)現(xiàn)，將放電電弧引向金屬結(jié)構(gòu)部件，從而避免了火花直接到達(dá)電子線路。
對電子式電能表作電磁兼容性試驗(yàn)的目的是什么？一般選擇哪些試驗(yàn)項(xiàng)目？
電子式電能表測量精度高，基本誤差穩(wěn)定，但電磁兼容性較差，尤其對“高頻”和“瞬變”的騷擾特別敏感，電磁干擾通常會引起電子式電能表多計(jì)或漏計(jì)，甚至整個數(shù)據(jù)處理單元死機(jī)或丟失數(shù)據(jù)，嚴(yán)重的還會造成電子器件永久性損壞。為了保證電子式電能表在現(xiàn)場運(yùn)行時(shí)的性能可靠，質(zhì)量穩(wěn)定，一般在型式檢定時(shí)應(yīng)對其進(jìn)行一系列有抗擾性試驗(yàn)，試驗(yàn)項(xiàng)目一般選擇：低頻騷擾試驗(yàn)、傳導(dǎo)暫態(tài)和抗擾度試驗(yàn)、靜電放電抗擾度試驗(yàn)、高頻電磁場抗擾度試驗(yàn)、外磁場影響試驗(yàn)。
靜電放電抗擾度試驗(yàn)中的接觸放電與氣隙放電有何異同點(diǎn)？
靜電放電抗擾度試驗(yàn)（
靜電放電發(fā)生器）的接觸放電與氣隙放電的相同點(diǎn)是：均屬于直接放電方式。不同點(diǎn)是：接觸放電適用于外殼涂層為非絕緣層的電能表，其放電電極為尖形，放電時(shí)電極直接與被試表接觸。氣隙放電適用于外殼涂層為絕緣層，或外殼為非導(dǎo)電面的電能表，也適用于電源線、信號通信線，其放電電極為圓形，放電時(shí)電極靠近被試表表面，每次放電后應(yīng)移開電極，然后才能進(jìn)行下一次單次放電，直到完成規(guī)定的放電次數(shù)。
對電能表進(jìn)行電壓跌落試驗(yàn)采用的主要設(shè)備有什么要求？
對電能表進(jìn)行電壓跌落及中斷試驗(yàn)采用的主要設(shè)備是周波跌落模擬發(fā)生器，對其性能指標(biāo)要求是：
1、輸出電壓相對于試驗(yàn)要求的電壓等級的偏差不大于±5%，電壓檢測必須有2%的準(zhǔn)確度。
2、當(dāng)帶100Ω阻性負(fù)載時(shí)，實(shí)際電壓的過沖或欠充電壓小于電壓變化的5%。且突變過程電壓上升和降落的時(shí)間在1-5μs之間。
3、階躍電壓可在電源電壓的任意相角開始和停止，過零控制必須在±10°的準(zhǔn)確度。
4、試驗(yàn)發(fā)生器的輸出阻抗在過渡中必須低而平穩(wěn)。
