IEC 61000-4-3
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:
是IEC 國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)的簡(jiǎn)稱。IEC61340-2-1:靜電測(cè)試方法—充電率;IEC61340-2-1:靜電測(cè)試方法—充電率;IEC61340-2-1:靜電測(cè)試方法—充電率
IEC 61000-4-3標(biāo)準(zhǔn)適合的產(chǎn)品
GTEM小室 輻射敏感度(抗擾度)測(cè)試系統(tǒng)
- 產(chǎn)品簡(jiǎn)介:GTEM 小室構(gòu)成的輻射敏感度(抗擾度)測(cè)試系統(tǒng)為小型電子產(chǎn)品的輻射電磁場(chǎng)干擾敏感性提供有力的測(cè)試依據(jù)
- 型 號(hào):
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