EMC測試
作者：3ctest 日期：2010-12-18 瀏覽次數(shù)：1518次 來源：
EMC學(xué)科的發(fā)展與EMC測量技術(shù)的發(fā)展密切相關(guān)，涉及EMC測量的內(nèi)容很多，其中主要有：設(shè)備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射和敏感度測量、電磁環(huán)境的測量、天線系統(tǒng)EMC有關(guān)性能的測量、系統(tǒng)EMC測量。此外還包括：頻譜特性測量、濾波器特性測量、接大地電阻和搭接測量、屏蔽效能測量、電線電纜鍋臺測量、靜電放電測量、射頻輻射對電爆管和燃油危害的測量、雷電放電敏感度測量、核電磁脈沖敏感度測量等。
有關(guān)這些測量方法已有許多書籍論述，這里不再贅述。本章著重討論主要的EMC測量設(shè)施、測量環(huán)境、測量不確定度以及測量設(shè)施的利用。電磁兼容性測試標(biāo)準(zhǔn)要求：EMC測量通常在專門設(shè)計(jì)的測試設(shè)施中進(jìn)行。
所謂EMC測試設(shè)施是一種工程結(jié)構(gòu)或成套的裝備，為了達(dá)到EMC測量的目標(biāo)，它必須滿足受試設(shè)備、電磁干擾能量轉(zhuǎn)換設(shè)備一電場、磁場、電壓和電流的探測器、發(fā)射源，以及相應(yīng)的測試支持設(shè)備等的需求。
測試設(shè)施的用途在于提供一個(gè)識別并隔離噪聲并可重復(fù)測量EMC參數(shù)的測試環(huán)境。這樣的EMC參數(shù)將真實(shí)地表示EUT的發(fā)射或?qū)o線電噪聲的抗擾度，或者是電子系統(tǒng)、設(shè)備或部件(例如電纜)之間的相互干擾c
對測試設(shè)施最基本的要求是提供KUT按實(shí)際情況工作的必要條件。EUT是作為受試系統(tǒng)(EUT)布置的，受試系統(tǒng)包括典型應(yīng)用中與EUT一起的保障和校驗(yàn)設(shè)備、評估設(shè)備以及相關(guān)的其它設(shè)備和互連線。而EMI能量轉(zhuǎn)換(測試發(fā)射的探測器和測試抗擾度的信號源)是EMC測試中為測量和產(chǎn)生必要的EMI信號用的。通常應(yīng)用的轉(zhuǎn)換設(shè)備有如下幾種：
1.遠(yuǎn)場電磁場到電壓(電流)轉(zhuǎn)換器：電磁場探測器(如接收天線或探頭)、電磁場源(如發(fā)射天線或探頭)。
2.近場磁場到電流(電壓)轉(zhuǎn)換器：環(huán)天線或環(huán)天線系統(tǒng)。
3.近場電場到電壓轉(zhuǎn)換器：電場探頭。
4.橫電磁(貝M)場到電壓轉(zhuǎn)換設(shè)備：12M(橫電磁波傳輸)或CrEM(吉赫橫電磁波傳輸)小室。
5.電流探頭和電流注入器、吸收符。
6.電壓探頭和電壓注入器。
測量支持設(shè)備是為了保障Ew和能量轉(zhuǎn)換設(shè)備的物理和電氣功能。這些支持設(shè)備有電源、Eut轉(zhuǎn)臺、天線方位轉(zhuǎn)臺、信號發(fā)生器、接收機(jī)和頻譜分析儀等。
進(jìn)行EMC測量是一件非常不平凡的工作，它要求詳細(xì)地計(jì)劃并根據(jù)EUT、測試儀表和適用的標(biāo)準(zhǔn)來仔細(xì)地進(jìn)行，包括掌握復(fù)雜的測量方法和儀器使用，要求一些專門的裝置和了解則T的工作模式等。EMC測試設(shè)施的要求是根據(jù)測試目的(如符合的測試標(biāo)準(zhǔn)、進(jìn)行評估的判據(jù))、測試類型(如發(fā)射、抗擾度或交擾等)，現(xiàn)有的測試技術(shù)及評估的參數(shù)(如場強(qiáng)、電壓、電流或它們的比值等)等來確定。
正確、高精度和可重復(fù)測量EMC參數(shù)的技術(shù)目標(biāo)往往與要求最短的時(shí)間、最低勞動(dòng)量和最少的經(jīng)費(fèi)支出相矛盾。對于大量的和各種各樣的EUT及測試要求，要解決這些矛盾勢必要有許多的測試技術(shù)和各種測試設(shè)施,根據(jù)各種不同的物理原理建立的典型的EMC測量設(shè)施配置。當(dāng)然，這些設(shè)施并不總是直截了當(dāng)?shù)嘏cEMC參數(shù)相關(guān)。它們甚至包括簡單的停車場專用區(qū)以及TEM或CmM小室，由圖可知，主要的測試設(shè)施包括開闊測試場(oA賜)，有吸收材料的開闊場、屏蔽室、屏蔽暗室和半暗室、混響室等。
