隨著電磁兼容檢測技術(shù)的發(fā)展和提高，人們正針對不同的電子電器產(chǎn)品尋求更為簡單便捷的檢測方法，尤其對于小型的電子產(chǎn)品，如：電動玩具、集成電路（PCB板）、汽車電子零部件等。
電磁兼容性的測量手段主要是由測試場地和測試儀器組成。常規(guī)的電磁兼容檢測方法有屏蔽室法、開闊場法、電波暗室法等。
屏蔽室：在
EMC測試中，屏蔽室能提供環(huán)境電平低而恒定的電磁環(huán)境，它為測量精度的提高，測量的可靠性和重復(fù)性的改善帶來了較大的潛力。但是由于被測設(shè)備在屏蔽室中產(chǎn)生的干擾信號通過屏蔽室的六個面產(chǎn)生無規(guī)則的漫反射，特別是在輻射發(fā)射測量和輻射敏感度測量中表現(xiàn)更嚴(yán)重，導(dǎo)致在屏蔽室內(nèi)形成駐波而產(chǎn)生較大的測量誤差。
電波暗室：通常所說的電波暗室在結(jié)構(gòu)上大都由屏蔽室和吸波材料兩部分組成。在工程應(yīng)用中又分全電波暗室和半電波暗室。全電波暗室可充當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)天線的校準(zhǔn)場地，半電波暗室可作為EMC試驗場地。電波暗室的主要性能指標(biāo)有“靜區(qū)”、“工作頻率范圍”等六個。但建造電波暗室的成本、難度均相當(dāng)高，因為暗室的工作頻率的下限取決于暗室的寬度和吸收材料的長度、上限取決于暗室的長度和所充許的靜區(qū)的最小截面積。且由于吸波材料的低頻特性等原因，總的測試誤差有時高達(dá)幾十分貝。
由于開闊場、屏蔽室和電波暗室的部分缺點，1974年美國國家標(biāo)準(zhǔn)局的專家首先系統(tǒng)的論述了橫電波傳輸小室（簡稱
GTEM小室），其外形為上下兩個對稱梯形。橫電波小室具有結(jié)構(gòu)簡單、檢測方法簡便等特點。標(biāo)準(zhǔn)TEM小室的測量尺寸大約限定在設(shè)計的最小工作波長的四分之一范圍，但對于小尺寸的被測件，可以滿足測試的要求和技術(shù)指標(biāo)。
